氣相色譜的常見問題和維護
一 ， 基線
1，基線向下漂移
可能的原因一:新色譜柱剛安裝在設備上，基線續可能連續向下漂移幾鐘.這是正常現象。
建議采取措施:提高柱溫箱溫度至色譜柱的最高連使用溫度附近，維持該溫度到基線走勢平穩。如果 新色譜柱在初次使用中，以基線連續10分鐘沒有下降的趨勢，應立刻冷卻色譜柱并檢查氣路有無泄漏
可能的原因二:檢測器未達到平衡。
建議采取措施:延長檢測器的平衡時間。
可能的原因三:檢測器或系統中的其它中的沉淀污染被高溫‘烘烤’出，形成對基線的干擾
建議采取措施:參見P16－18，清理系統中的污染物。
2基線向上漂移
可能的原因一:色譜柱固定相的破壞。
建議采取措施:不潔凈的載氣和過高的使用溫度是破壞固定相的主要原因，調整相應的條件。
如果固定相破壞.流失嚴重，必須更換新的色譜柱。
可能的原因二:載氣流速下降。
建議采取措施:①調整載氣壓力 ②清洗或更換氣路中的壓力和流量調節閥。參見16-18。
3噪音
可能的原因一:毛細管色譜柱末端插入FID.NPD或者FPD檢測器的火焰區過深。
建議采取措施:查看色譜柱的安裝部分，連接色譜柱和檢測器。
可能的原因二:使用ECD或TCD檢測器時，氣體泄漏
建議采取措施:檢查.維修氣路。引發基線噪聲。
可能的原因三:使用FID.NPD或者FPD檢測器時，燃氣流速或者燃氣選擇不當,引起基線噪音。
建議采取措施:使用干燥.潔凈的高等級燃氣。調整燃氣流速。
可能的原因四:進樣口被污染。
建議采取措施:①參P18,清潔進樣口。 ②更換進樣襯墊。③更換襯管中的玻璃纖維或硅烷
化玻璃柱。
可能的原因五:毛細管色譜柱被污染。
建議采取措施:①切除色譜柱首端10厘米。②使用溶劑清洗色譜柱。③色譜柱污染嚴重時，
必須更換新的色譜柱。
可能的原因六:檢測器發生故障。
建議采取措施:參見16-18，維修更換檢測器。
可能的原因七:檢測器電路發生故障。
建議采取措施:及時聯系GC設備生產商或者專業維修機構。
4 Offset （基線位置突然變化）
4 Offset （基線位置突然變化可能的原因一:電源電壓波動。
4 Offset （基線位置突然變化）
可能的原因一:電源電壓波動。
建議采取措施:觀察線路電壓與基之間的變化關系。建意安裝電源穩壓器。
可能的原因二:電路接口處連接不好。
建議采取措施:檢查電路接口連接處，清理接口處的污染物和銹斑，重新將松動的接口擰緊。
可能的原因三:進樣口被污染。
建議采取措施:①清潔進樣口。 ②更換進樣隔墊。③ 更換襯管中的玻璃纖維或硅烷化玻璃柱。
可能的原因四:毛細管柱被污染。
建議采取措施:①切除色譜柱首端10厘米。②使用溶劑清洗色譜柱。③色譜柱污染嚴重時，
必須更換新的色譜柱。
可能的原因五:毛細管色譜柱末端插入FID.NPD或者FPD檢測器的火焰區過深。
建議采取措施:查看色譜柱的安裝部分P10重新連接色譜柱和檢測器。
可能的原因六:檢測器被污染。
建議采取措施:參見P16－18，清理檢測器。
5 毛刺
可能的原因一:電磁干擾通過電源或儀器殼形成對基線的影響。
建議采取措施:一般干擾有很強的周期性，很多情況下來自附近其它的電子設備.關閉或
移動這些設備。在必要的情況下增加溫壓電源,可以消除電源變化引起的干擾.
可能的原因二:顆粒污染進入檢測器中。
建議采取措施:參見P16-18,清潔檢測器，清除顆粒雜質來源。注意：清潔的H2 燃燒時，火焰無色；有有機污染時，H2 燃燒的火焰顏色為黃色。
可能的原因三:氣路密封松動，氣壓升高，氣體從松動處泄漏，壓力開始下降到密封可以再次密封。如此壓力周期變化，引起基線規律性的毛刺出峰。
建議采取措施:擰緊松動的密封。
可能的原因四:檢測器內部電路接口或輸出，輸入信號接口松動，積塵或者被腐蝕。
建議采取措施:檢查接口，清潔接口并擰緊松動的部分。更換腐蝕嚴重的火焰檢測器。
6 Wander
可能的原因一:例如溫度，電壓等環境條件的波動，引起基線的Wander。
建議采取措施:找到環境因素變化與基線Wander間的關系，然后穩定該因素。
可能的原因二:溫度控制偏移。
建議采取措施:測量檢測器的溫度。如果正在使用TCD檢測器，檢測一遍檢測器。
可能的原因三:基線Wander，而溫度恒定，那么載氣中可能有雜質。
建議采取措施:更換載氣氣源或者氣體凈化器.
可能的原因四:進樣口被污染
建議采取措施:a、參見P18，清潔進樣口。b、更換進樣墊。c、更換襯管中的玻璃纖維或者硅烷化玻璃珠。
可能的原因五:毛細管色譜柱被污染、
建議采取措施:a、切除色譜柱首端10厘米；b、使用溶劑清洗色譜柱；c、色譜柱污染嚴重時，必須更換新的色譜柱、
可能的原因六:氣體流速控制失靈、
建議采取措施:清洗或者更換氣體流速調節閥。
二 峰行扭曲
A: 所有組分峰變小 B.平頭峰
C. 峰伸舌 D.鬼峰
E、峰高峰面積不重復 F、負峰
G、無峰 H、對樣品的檢測靈敏度下降 I分裂峰 J、峰拖尾
K、保留時間漂移 L、分離度下降
M、溶劑峰拉寬 N、柱效快速下降
A: 所有組分峰變小
可能的原因一:進樣針缺陷
建議采取措施:使用新的或者無缺陷的進樣針
可能的原因二:進樣后樣品滲漏，例如隔墊失效引起滲漏、
建議采取措施:判斷樣品滲漏點，并且進行維修
可能的原因三:吹掃氣體流速過高或者進樣分流比過大
建議采取措施: 調整氣體流速和分流比。
可能的原因四:分析大分子量或者低揮發樣品時，樣品的汽化溫度或者柱溫低
建議采取措施: 提高樣品氣化溫度或柱溫，使用升溫程序時特別要注意色譜柱標示的最高溫度。
可能的原因五:NPD檢測器中◎鹽表面被二氧化硅覆蓋。這層涂覆物一般來源于色譜柱中硅樹脂的流失，或者色譜柱衍生過程中硅烷化試劑的殘留。
建議采取措施:更換◎鹽。盡量避免硅化物進入檢測器中。◎鹽表面的硅化物熔球一般只有六個月的壽命。
可能的原因六:NPD檢測器的使用溫度過高.氣體不純.或者關閉檢測器時環境溫度過高，都會造成◎鹽的流失，直接影響檢測器對樣品的分析。
建議采取措施:a. 更換◎鹽。b,當氣體受阻或者被切時，立即關閉NPD檢測器。C，避免過高的使用溫度。D，暫時停止使用NPD檢測器時，可以在150度的溫度下保持對檢測器的加熱狀態。e,儀器長期停止使用時，使用于燥劑保存。
可能的原因七:采用不分流進樣模式時，分流閥截至時間過程.或者色譜柱初始溫度過高，都會阻礙樣品的聚焦，而影響檢測效果。
建議采取措施:增加進樣過程中分流的截止時間。降低色譜柱的初始溫度.或者使用低揮發溶劑，使初始柱溫低于溶劑的沸點。
可能的原因八:檢測器與樣品不匹配。
建議采取措施:選擇對樣品有充分響應的檢測器。
可能的原因九:輸出信號幅度不足。
建議采取措施:檢測信號輸出的衰減設定或信號連接的輸出端是否正確。
可能的原因十:樣品的揮發。
建議采取措施:調整樣品的濃度或者選擇合適的溶劑。
B.平頭峰
可能的原因一:檢測器過載，形成饅頭峰，甚至平頭峰。
建議采取措施:減少樣品或者稀釋樣品。
可能的原因二:檢測器輸出信號溢出.
建議采取措施:減少進樣量或者對檢測器的輸出信號進行衰減。
C. 峰伸舌
峰伸舌多數是因為色譜柱過載。這種情況下，可以減少樣品的進樣體積（有時需要響應地提高儀器的靈敏度），也可以選用大容量的色譜柱進行分析（大內經的厚膜柱有較大的樣品容量，但是分離能力相反地會下降）
D鬼峰
E、峰高峰面積不重復
可能的原因一:平行進樣不重復，偏差大。
建議采取措施:加強手動進樣練習。使用自動進樣器。
可能的原因二:其它峰型變化引起的峰錯位.峰干擾。 GC
建議采取措施:參見其它有關‘峰型扭曲’的內容。
可能的原因三:來自基線的干擾.
建議采取措施:參見‘基線問題’部分。
可能的原因四:儀器系統參數設定的改變。
建議采取措施:將參數設定標準化.規范化。
F、負峰
可能的原因一:檢測器與數據處理系統的信號連接極性相反，呈現幾乎全部負峰。
建議采取措施:將信號連接倒置。
可能的原因二:如果樣品組分的導熱系統高于載氣的導熱系數，使用TCD檢測器時，出現負峰應屬正常現象。
建議采取措施:選擇數據處理系統中的‘負峰處理’。
可能的原因三:ECD檢測器在被污染后，可能在正峰的出現后跟隨一個負峰。
建議采取措施:參見P16，清洗或者更換ECD檢測器。
G、無峰
可能的原因一:注射器損壞造成進樣失敗。
建議采取措施:使用新的或者無損壞的進樣器。
可能的原因二:進樣后樣品在進樣口出發生滲漏。
建議采取措施:清洗進樣，擰緊松動的部分。
可能的原因三:載氣流速出現異常。
建議采取措施:重新調整載氣的流速。
可能的原因四:色譜柱連接在錯誤的檢測器上或者進樣口上。甚至色譜柱發生斷裂。
建議采取措施:重新安裝色譜柱或者更換色譜柱。參見P10。
可能的原因五:檢測器沒有工作.或者檢測器沒有與數據處理系統連接。
建議采取措施:觀察檢測器是否正常工作（例如判斷FID的火焰是否點燃）；檢查檢測器與數據處理系統之間的通訊連接。
H、對樣品的檢測靈敏度下降
可能的原因一:色譜柱.襯管被污染，造成對于乙醇.胺類和羥酸等活性物質的選擇性和靈敏度的下降。
建議采取措施:a、清洗襯管。B、使用溶劑清洗色譜柱。對樣品的選擇性下降嚴重時，更換色譜柱。
可能的原因二:進樣時的樣品滲漏使樣品中組分峰減小。對于易揮發的樣品，相應造成的靈敏度下降尤其明顯。
建議采取措施:查找滲漏點，并按照儀器‘操作維修手冊’進行維修。
Kromat Corporation
可能的原因三:使用分流氣化進樣模式，色譜柱初始溫度過高，致使樣品氣化后擴散加劇，對于低沸點樣品，可能引起分析靈敏度的下降。
建議采取措施:使用低于樣品溶劑沸點的初始柱溫。使用高沸點的溶劑。
J、峰拖尾
可能的原因一:襯管.色譜柱被污染，或者有活化中。
建議采取措施:A、參見P18，清洗、更換襯管。
可能的原因二:襯管、色譜柱安裝不當，存在死體積。
建議采取措施:a、注射惰性樣品（如甲烷）如果出峰拖尾，表明色譜柱安裝不當。B、參見P10，重新安裝色譜柱。
可能的原因三:色譜柱柱頭不平。
建議采取措施:用寶石頭筆或者陶瓷切片平滑地切開色譜柱保護層，然后在刻痕處段柱體。用20×放大鏡仔細檢查切口，如果切口不平.有裂痕活有碎屑進入柱中，重新切割。切割后的柱頭保持向下，安裝卡套和螺母，防止切割碎屑進入色譜柱中。
可能的原因四:固定相的極性指標與樣品分析不匹配。
建議采取措施:選擇其它型號的固定相。一般非極性或不干凈的色譜柱分析極性樣品時，經常發生峰拖尾。
可能的原因五:在樣品流經的路線中冷阱。
建議采取措施:消除在樣品流經的路線中的過低溫度區。
可能的原因六:襯管或者色譜柱中堆積切割碎屑。
建議采取措施:清理更換襯管。切除柱頭10厘米。
可能的原因七:進樣時間過長。
建議采取措施:縮短進樣時間。
可能的原因八:分流比低。
建議采取措施:增加分流比，至少大于20ml/min.
可能的原因九:進樣量過高。
建議采取措施:減少進樣體積或者稀釋樣品。
可能的原因十:酸胺.伯胺.叔胺和羥酸類物質的分析易產生拖尾。
建議采取措施:a、選擇更高極性指標的色譜柱。
B、對樣品進行衍生處理。
K、保留時間漂移
可能的原因一:柱溫變化
建議采取措施:檢測柱溫箱的溫度。
可能的原因二:氣體流速變化。
建議采取措施:注射不保留,可被檢測的樣品（例如甲烷）測定載氣的線速度，調節載氣壓力。
可能的原因三:進樣口泄漏。
建議采取措施:A、檢查進樣隔墊，如果損壞，立即更換。B、判斷其它泄漏處，維修泄漏處。
可能的原因四:溶劑條件變化。
建議采取措施:樣品與標準品使用同樣條件的溶劑。
可能的原因五:色譜柱被污染。
建議采取措施:A、切除色譜柱柱頭10厘米。B、高溫烘焙色譜柱。C、溶劑清洗色譜柱，或者更換新的色譜柱。
L、分離度下降
可能的原因一:色譜柱被污染。
建議采取措施:A、切除色譜柱柱頭10厘米。B、高溫烘焙色譜柱。C、溶劑清洗色譜柱，或者更換新的色譜柱。
可能的原因二:固定相被破壞。這種情況多為固定相過渡流失。
建議采取措施:參見P10，更換色譜柱。
可能的原因三:進樣失敗。
建議采取措施:a、檢查泄漏，維修泄漏。B、檢查溫度的適應性。C、檢查吹掃時間。D、檢查襯管是否積污。E、檢查襯管中的玻璃纖維。
可能的原因四:樣品濃度過高。
建議采取措施:a、稀釋樣品。B、減少進樣量。C、采取高分流比。
M、溶劑峰拉寬
可能的原因一:色譜柱安裝失敗。
建議采取措施:參見P10，重新安裝色譜柱。
可能的原因二:樣品滲漏。
建議采取措施:判斷其滲漏點，維修滲漏點。
可能的原因三:進樣量高。
建議采取措施:提高氣化室溫度，保證進樣后樣品瞬間氣化。高于色譜柱連續使用溫度的氣化溫度，不破壞色譜柱的使用。
可能的原因四:分流比低。
建議采取措施:提高分流比。
可能的原因五:柱溫低。
建議采取措施:提高柱溫。
可能的原因六:不分流進樣時，初始溫度過高。
建議采取措施:降低初始溫度，使用高沸點的溶劑。
可能的原因七:吹掃時間過長（不分流進樣）。
建議采取措施:定義段時間安的吹掃程序。
N、柱效快速下降
可能的原因一:色譜柱斷裂 GC
建議采取措施:參見P10，重新安裝色譜柱。
注意：A、防止破壞聚酰亞胺涂層。
B、避免使用在高于370℃的溫度下。
C、繁殖色譜柱的磨損擦傷（例如色譜柱安裝不當，經常的震蕩會使色譜柱與柱溫箱內的銳邊接觸，擦傷保護層）。
D、不要過分彎曲或扭曲柱體。色譜柱的斷裂不一定在保護層被破壞后立刻發生，但保護層的損傷卻常常是致命的。
可能的原因二:色譜柱在過高的溫度下長期使用。
建議采取措施:參見P10，更換色譜柱。降低使用溫度至安全的范圍內。
可能的原因三:有氧進入色譜柱中，特別在升溫的過程中。
建議采取措施:A、使用純凈的載氣。 B、查找氣路中的泄漏點，并及時維修。
可能的原因四:無機酸.堿對色譜柱的毒害。
建議采取措施:避免讓無機酸.堿進入色譜柱中。
可能的原因五:不揮發.難揮發物質對色譜柱的污染
建議采取措施:防止不揮發.難揮發物質進入色譜柱中。建議使用保護柱。
